產品詳細介紹

電子產品可靠性測試是為了評估產品在規(guī)定的壽命期間內，在預期的使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進行的活動。是將產品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經受其作用，以評價產品在實際使用、運輸和儲存的環(huán)境條件下的性能，并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機理。

可靠性測試包括以下幾個部分：

1、氣候環(huán)境測試：高溫測試、低溫測試、溫濕度循環(huán)/恒定濕熱測試、冷熱沖擊測試、溫變測試、低氣壓測試、光老化測試、腐蝕測試等。

2、機械環(huán)境測試：振動測試、沖擊測試、碰撞測試、跌落測試。

3、綜合環(huán)境測試：溫度+濕度+振動/沖擊/碰撞、HALT/HASS/HASA、溫濕度堆碼試驗、高壓蒸煮試驗。

4、包材及包裝運輸測試：環(huán)境溫濕度測試、堆碼測試、包裝抗壓測試、振動測試、沖擊測試、跌落測試、碰撞測試、水平夾持測試、低氣壓測試。

5、IP防護測試：防塵試驗、防水試驗。

6、物理性能測試：百格測試、耐磨測試、劃痕測試、插拔測試、彎折測試、色牢度測試、防火/燃燒測試；搖擺測試、按鍵壽命測試、硬度測試、落錘沖擊/擺錘沖擊測試、拉伸強度/抗壓強度/屈服強度測試、熔融指數(shù)測試。

7、電磁兼容環(huán)境測試：射頻性能測試、SAR測試、OTA測試、HAC測試、TCOIL測試、數(shù)字電視機性能測試、音視頻產品性能測試、、平板顯示性能測試、醫(yī)療器械注冊檢測、電信進網(wǎng)許可檢測。

8、電學性能測試：溫升測試、耐壓測試、絕緣電阻測試、介電強度測試、接觸電阻測試、表面電阻率測試、接地電阻測試。

9、失效分析測試：表面/極表面微觀測量與分析、無損測量與分析、電性能測量與分析、物理性能測量與分析、焊接工藝測量與分析、PCB/PCBA測量與分析、電子元器件測量與分析、塑膠/橡膠/高分子材料測量與分析、金屬材料測量與分析。