GJB360B-2009電子元件高頻振動試驗確定元件對在現(xiàn)場使用中可能受到的高頻振動的適應(yīng)性和結(jié)構(gòu)完好性。

振動試驗是按照相關(guān)的測試規(guī)范將試驗樣品剛性安裝在振動臺上，引線或電纜也應(yīng)適當(dāng)固定。對帶有安裝架的試驗樣品，其中一個振動方向應(yīng)與安裝架的安裝表面相平行。GJB360B-2009電子元件高頻振動試驗采用的是正弦掃頻振動試驗方法，有起始的振動頻率，和后頻率，以及交越頻率。

（一）振動試驗可能引起的故障：

1.振動試驗使元件結(jié)構(gòu)松動，內(nèi)部部件產(chǎn)生相對運動。

2.造成脫焊、接觸不良、工作特性變劣；

3.元件產(chǎn)生噪聲、磨損、物理失效，使機械結(jié)構(gòu)疲勞。

振動試驗的時間：較短4小時，較長12小時。

振動試驗的頻率：較低頻率10hz,較高頻率3000hz,加速度較小10G,較大80G。

振動試驗前后是否需要預(yù)處理按照產(chǎn)品的規(guī)范而定。

（二）振動試驗的結(jié)果判定：

1.機械損傷，例如外殼、引線、封接等處損傷；

2.電氣性能是否合格。